該產(chǎn)品可以通過(guò)多樣化的應(yīng)用程序，不費(fèi)吹灰之力即可獲得最敏銳、最清晰、最高分辨率的掃描圖像。

納米級(jí)的顯微鏡

硬核級(jí)的科技進(jìn)步

-     鼎力相助時(shí)代前沿的科技研發(fā)

-    研究型AFM中采用的雙攝像頭系統(tǒng)

-     能全自動(dòng)化實(shí)時(shí)更新海量數(shù)據(jù)

實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)技術(shù)的智能原子力顯微鏡

Park FX只需鼠標(biāo)一鍵操作，就能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)換針，以避免探針被污染或因操作不當(dāng)而導(dǎo)致的探針損壞等問(wèn)題。用戶還可以根據(jù)提示，選擇不同的探針類(lèi)型，應(yīng)用類(lèi)型和使用信息等。

通過(guò)自動(dòng)換針?lè)绞剑脩艨奢p松安全地進(jìn)行自動(dòng)換針。利用裝有8個(gè)針盒和磁控機(jī)制的便利性，用戶無(wú)需操作便可安裝探針。

探針識(shí)別攝像頭可以加載探針芯片載體上的二維碼，提取并顯示每個(gè)可用探針的探針類(lèi)型，應(yīng)用類(lèi)型和使用信息等全部相關(guān)信息。

自動(dòng)激光校準(zhǔn)功能將SLD光定位到懸臂梁的適當(dāng)位置，并進(jìn)一步分別優(yōu)化PSPD的垂直和橫向位置。用戶只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊，移動(dòng)X,Y和Z軸便可得到毫不失真的高清掃描圖。

雙攝像頭系統(tǒng)

自動(dòng)校準(zhǔn)探針和樣品位置

樣品攝像頭

樣品臺(tái)上最多可以同時(shí)放置四個(gè)不同量級(jí)的樣品。即便如此，樣品攝像頭也可以毫不費(fèi)力地定位到相關(guān)位置進(jìn)行精確掃描。

探針識(shí)別攝像頭

探針識(shí)別系統(tǒng)可以幫助用戶搜索相關(guān)探針的全部信息（包括探針類(lèi)型，應(yīng)用類(lèi)型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一鍵便可輕松選擇您所需要的探針。

智能自動(dòng)化

FX40擁有智能視覺(jué)系統(tǒng)，能自動(dòng)檢測(cè)探針是否正確定位。軟件界面通過(guò)定位加載探針的位置至納米級(jí)別，并在必要時(shí)生成錯(cuò)誤狀態(tài)報(bào)告，同時(shí)將這些數(shù)據(jù)與成千上萬(wàn)個(gè)可能發(fā)生的模擬問(wèn)題進(jìn)行比較，以此不斷更新升級(jí)軟件。

原子力顯微鏡中最快速精確的真正非接觸模式

對(duì)于針尖樣品，非接觸模式展現(xiàn)控制力，距離達(dá)到了亞納米級(jí)別。Park FX40擁有快速且精確的非接觸模式。

環(huán)境傳感器

智能掃描儀顯示并儲(chǔ)存?zhèn)鞲衅鞯臏y(cè)量。傳感器主要測(cè)量基本的環(huán)境條件，如溫度，濕度，水平和振動(dòng)。由此幫助用戶在不同環(huán)境條件下掃描圖像，為您篩選最佳的環(huán)境指標(biāo)。

安全的探針安裝系統(tǒng)

用戶可以自選手動(dòng)或自動(dòng)探針安裝功能，同時(shí)內(nèi)置的智能系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)檢測(cè)并在用戶錯(cuò)誤安裝探針時(shí)發(fā)出警告，從而有效提高測(cè)量精準(zhǔn)度。

最佳AFM體驗(yàn)——專(zhuān)為FX設(shè)計(jì)的Park OS SmartScan

簡(jiǎn)易單擊成像

設(shè)置

自動(dòng)探針檢測(cè)，自動(dòng)激光校準(zhǔn)

簡(jiǎn)要的教學(xué)動(dòng)畫(huà)分分鐘讓您學(xué)會(huì)如何進(jìn)行樣品放置以及儀器成像設(shè)置

1. 精準(zhǔn)定位

定位樣品位置

AFM自動(dòng)執(zhí)行懸臂的頻率性掃描，接近樣品的Z移動(dòng)臺(tái), 然后自動(dòng)聚焦，幫助您掃描任何您想要的區(qū)域。  

2. 高清成像

自動(dòng)識(shí)別探針

完成定位之后，系統(tǒng)會(huì)設(shè)置理想的參數(shù)，連接懸臂并掃描樣品，直到為您掃出高解析度高分辨率的圖像。